amtec Analysenmesstechnik GmbH
Uređaji za mjerenje debljine slojeva (XRF 940 V)
Mjerne glave (XRF 940 T)
Rendgenski fluorescentni spektrometri (MPD 2000)
Rendgenski fluorescentni spektrometri (XRF 940 XY)
Inline mjerni sustavi (XRF 940 T)
Kolaž međunarodnih vijesti, inovacija, sajmova, trgovine u zemlji i inozemstvu. Budite obaviješteni prije ostalih i pretplatite se sada na Exportpages bilten.
U bilo kojem trenutku možete se odjaviti putem linka u našem biltenu.
Kao svoju marketinšku platformu koristimo Brevo. Klikom dolje za slanje ovog obrasca potvrđujete da će se podaci koje ste unijeli prenijeti na Brevo na obradu u skladu s uvjeti korištenja .